ການກວດກາແລະການຫຸ້ມຫໍ່ຂອງ ZW SERIES DIODE ການເຊື່ອມ
ວິທີການທົດສອບແລະກົດລະບຽບການກວດກາ
1. batch by batch inspection (ການກວດກາກຸ່ມ A)
ແຕ່ລະຊຸດຂອງຜະລິດຕະພັນຄວນໄດ້ຮັບການກວດກາຕາມຕາຕະລາງ 1, ແລະທຸກລາຍການໃນຕາຕະລາງ 1 ແມ່ນບໍ່ທໍາລາຍ.
ຕາຕະລາງ 1 ການກວດກາຕໍ່ຊຸດ
| ກຸ່ມ | ການກວດກາລາຍການ | ວິທີການກວດກາ | ເກນ | AQL (Ⅱ) |
| A1 | ຮູບລັກສະນະ | ການກວດກາສາຍຕາ (ພາຍໃຕ້ສະພາບແສງສະຫວ່າງປົກກະຕິ ແລະສະພາບວິໄສທັດ) | ໂລໂກ້ແມ່ນຈະແຈ້ງ, ການເຄືອບດ້ານແລະການເຄືອບແມ່ນບໍ່ມີການປອກເປືອກແລະຄວາມເສຍຫາຍ. | 1.5 |
| A2a | ຄຸນລັກສະນະທາງໄຟຟ້າ | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) ໃນ JB/T 7624—1994 | ຂົ້ວກັບກັນ:VFM> 10USL IRRM> 100USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) ໃນ JB/T 7624–1994 | ຮ້ອງທຸກຕໍ່ຄວາມຕ້ອງການ | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) ໃນ JB/T 7624–1994 | ຮ້ອງທຸກຕໍ່ຄວາມຕ້ອງການ | ||
| ໝາຍເຫດ: USL ແມ່ນຄ່າຈຳກັດສູງສຸດ. | ||||
2. ການກວດກາແຕ່ລະໄລຍະ (ກວດກາກຸ່ມ B ແລະ ກຸ່ມ C)
ອີງຕາມຕາຕະລາງ 2, ຜະລິດຕະພັນສຸດທ້າຍໃນການຜະລິດປົກກະຕິຄວນໄດ້ຮັບການກວດກາຢ່າງຫນ້ອຍຫນຶ່ງຊຸດຂອງກຸ່ມ B ແລະກຸ່ມ C ທຸກໆປີ, ແລະລາຍການກວດກາທີ່ມີເຄື່ອງຫມາຍ (D) ແມ່ນການທົດສອບການທໍາລາຍ.ຖ້າການກວດສອບເບື້ອງຕົ້ນບໍ່ມີເງື່ອນໄຂ, ການເກັບຕົວຢ່າງເພີ່ມເຕີມສາມາດຖືກກວດກາຄືນໃຫມ່ຕາມເອກະສານຊ້ອນທ້າຍຕາຕະລາງ A.2, ແຕ່ວ່າພຽງແຕ່ຄັ້ງດຽວ.
ຕາຕະລາງ 2 ການກວດກາແຕ່ລະໄລຍະ (ກຸ່ມ B)
| ກຸ່ມ | ການກວດກາລາຍການ | ວິທີການກວດກາ | ເກນ | ແຜນຕົວຢ່າງ | |
| n | Ac | ||||
| B5 | ການຖີບອຸນຫະພູມ (D) ຕິດຕາມດ້ວຍການປະທັບຕາ |
| ການວັດແທກຫຼັງຈາກການທົດສອບ:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL ບໍ່ຮົ່ວໄຫຼ | 6 | 1 |
| CRRL | ໂດຍຫຍໍ້ໃຫ້ຄຸນລັກສະນະທີ່ກ່ຽວຂ້ອງຂອງແຕ່ລະກຸ່ມ, VFM ແລະຂ້ອຍRRMຄ່າກ່ອນແລະຫຼັງການທົດສອບ, ແລະການສະຫລຸບການທົດສອບ. | ||||
3. ການກວດກາການລະບຸຕົວຕົນ (ການກວດກາກຸ່ມ D)
ເມື່ອຜະລິດຕະພັນໄດ້ຖືກສະຫຼຸບແລະເຂົ້າໄປໃນການປະເມີນການຜະລິດ, ນອກເຫນືອຈາກການກວດກາກຸ່ມ A, B, C, ການທົດສອບກຸ່ມ D ຄວນເຮັດຕາມຕາຕະລາງ 3, ແລະລາຍການກວດກາທີ່ມີເຄື່ອງຫມາຍ (D) ແມ່ນການທົດສອບການທໍາລາຍ.ການຜະລິດປົກກະຕິຂອງຜະລິດຕະພັນສໍາເລັດຮູບຕ້ອງໄດ້ຮັບການທົດສອບຢ່າງຫນ້ອຍຫນຶ່ງຊຸດຂອງກຸ່ມ D ທຸກໆສາມປີ.
ຖ້າການກວດກາເບື້ອງຕົ້ນລົ້ມເຫລວ, ການເກັບຕົວຢ່າງເພີ່ມເຕີມສາມາດຖືກກວດກາຄືນໃຫມ່ຕາມເອກະສານຊ້ອນທ້າຍຕາຕະລາງ A.2, ແຕ່ວ່າພຽງແຕ່ຄັ້ງດຽວເທົ່ານັ້ນ.
ຕາຕະລາງ 3 ການທົດສອບການລະບຸຕົວຕົນ
| No | ກຸ່ມ | ການກວດກາລາຍການ | ວິທີການກວດກາ | ເກນ | ແຜນຕົວຢ່າງ | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | ການທົດສອບການໂຫຼດວົງຈອນຄວາມຮ້ອນ | ເວລາຮອບວຽນ: 5000 | ການວັດແທກຫຼັງຈາກການທົດສອບ: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | ຊ໊ອກຫຼືສັ່ນສະເທືອນ | 100g: ຖື 6ms, ເຄິ່ງ sine waveform, ສອງທິດທາງຂອງ 3 ແກນ perpendicular ເຊິ່ງກັນແລະກັນ, 3 ເທື່ອໃນແຕ່ລະທິດທາງ, ທັງຫມົດ 18 ເທື່ອ.20g: 100 ~ 2000Hz, 2h ຂອງແຕ່ລະທິດທາງ, ທັງຫມົດ 6h. | ການວັດແທກຫຼັງຈາກການທົດສອບ: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | ໂດຍຫຍໍ້ໃຫ້ຂໍ້ມູນຄຸນລັກສະນະທີ່ກ່ຽວຂ້ອງຂອງແຕ່ລະກຸ່ມ, VFM , IRRMແລະຂ້ອຍDRMຄ່າກ່ອນແລະຫຼັງການທົດສອບ, ແລະການສະຫລຸບການທົດສອບ. | |||||
ເຄື່ອງຫມາຍແລະການຫຸ້ມຫໍ່
1. ມາກ
1.1 ເຄື່ອງຫມາຍໃສ່ຜະລິດຕະພັນປະກອບມີ
1.1.1 ຈໍານວນຜະລິດຕະພັນ
1.1.2 ເຄື່ອງໝາຍການລະບຸຕົວເຄື່ອງ
1.1.3 ຊື່ບໍລິສັດ ຫຼືເຄື່ອງໝາຍການຄ້າ
1.1.4 ລະຫັດກໍານົດ lots ການກວດກາ
1.2 ໂລໂກ້ເທິງກ່ອງຫຼືຄໍາແນະນໍາທີ່ຕິດຄັດມາ
1.2.1 ຮູບແບບຜະລິດຕະພັນ ແລະເລກມາດຕະຖານ
1.2.2 ຊື່ບໍລິສັດ ແລະ ໂລໂກ້
1.2.3 ສັນຍານປ້ອງກັນຄວາມຊຸ່ມ ແລະກັນຝົນ
1.3 ຊຸດ
ຂໍ້ກໍານົດການຫຸ້ມຫໍ່ຜະລິດຕະພັນຄວນປະຕິບັດຕາມກົດລະບຽບພາຍໃນຫຼືຄວາມຕ້ອງການຂອງລູກຄ້າ
1.4 ເອກະສານຜະລິດຕະພັນ
ຮູບແບບຜະລິດຕະພັນ, ຈໍານວນມາດຕະຖານການປະຕິບັດ, ຄວາມຕ້ອງການປະສິດທິພາບໄຟຟ້າພິເສດ, ຮູບລັກສະນະ, ແລະອື່ນໆຄວນໄດ້ຮັບການລະບຸໄວ້ໃນເອກະສານ.
ໄດ້diode ການເຊື່ອມຜະລິດໂດຍ Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor ຖືກນໍາໃຊ້ຢ່າງກວ້າງຂວາງໃນເຄື່ອງເຊື່ອມຄວາມຕ້ານທານ, ເຄື່ອງເຊື່ອມຄວາມຖີ່ຂະຫນາດກາງແລະສູງເຖິງ 2000Hz ຫຼືສູງກວ່າ.ດ້ວຍແຮງດັນໄຟຟ້າສູງສຸດຕໍ່ຫນ້າ, ຄວາມຕ້ານທານຄວາມຮ້ອນຕ່ໍາສຸດ, ເຕັກໂນໂລຢີການຜະລິດສິລະປະ, ຄວາມສາມາດໃນການທົດແທນທີ່ດີເລີດແລະການປະຕິບັດທີ່ຫມັ້ນຄົງສໍາລັບຜູ້ໃຊ້ທົ່ວໂລກ, diode ການເຊື່ອມໂລຫະຈາກ Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor ແມ່ນຫນຶ່ງໃນອຸປະກອນທີ່ເຊື່ອຖືໄດ້ທີ່ສຸດຂອງພະລັງງານຂອງຈີນ. ຜະລິດຕະພັນ semiconductor.